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斯坦福-比奈智力測(cè)試第五版（英文版）

品牌：pro.ed | SB5型 | 原產(chǎn)地：美國(guó)

斯坦福-比奈智力測(cè)試（Stanford-Binet Intelligence Scales，第五版簡(jiǎn)稱SB5）是一項(xiàng)旨在通過(guò)認(rèn)知能力的五個(gè)因素來(lái)衡量智力的測(cè)試。這五個(gè)因素包括流動(dòng)推理、知識(shí)、定量推理、視覺(jué)空間處理和工作記憶。言語(yǔ)反應(yīng)和非言語(yǔ)反應(yīng)都是經(jīng)過(guò)測(cè)量的。這五個(gè)因素中的每一個(gè)都有一個(gè)權(quán)重，綜合得分通常被降低到一個(gè)通常被稱為智商的比率。斯坦福-比奈測(cè)試是目前教育中使用的最可靠的標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試之一。在長(zhǎng)達(dá)一個(gè)世紀(jì)的歷史中，它經(jīng)歷了許多有效性測(cè)試和修訂，盡管評(píng)估無(wú)疑存在一些問(wèn)題，但大多數(shù)結(jié)果都被視為準(zhǔn)確的。也就是說(shuō)，得分高的人通常有天賦，而斯坦福-比奈測(cè)試得分低的人往往面臨某種認(rèn)知障礙。斯坦福比奈測(cè)試可以追溯到比奈-西蒙量表，這是法國(guó)用于識(shí)別智力水平的設(shè)備。比奈-西蒙量表是由阿爾弗雷德·比奈和他的學(xué)生西奧多·西蒙開發(fā)的。當(dāng)時(shí)法國(guó)的教育法在不斷變化，一個(gè)政府委員會(huì)聯(lián)系了比奈。委員會(huì)想要一種設(shè)備來(lái)檢測(cè)那些智力水平明顯低于同齡平均水平的兒童。

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